叶片测量系统

CORE-DS光学高速多轴测量系统是专为叶片测量量身定制的最佳解决方案。CORE-DS光学高速多轴测量系统使用新一代白光测头取代了传统接触式测头，克服了接触式测头在测量叶片时的固有弱点，为叶片测量技术开拓出一片全新领域。CORE-DS光学高速多轴测量系统使用的光学测头应用了创新的白光点光源进行数据采集，直径小至9um的光点可以检测到零件表面最细小的几何特征。光学测头的应用也完全避免了接触式测头容易产生的半径补偿错误。